渉計とは D( 径) 望遠鏡の解像度（≒回折限界） θ resolu'on= λ/D (λ 観測波 ) 複数の望遠鏡を いて開 合成す ることで、望遠鏡間の距離（基線 ）と等価の開 を持った望遠鏡 の解像度を得ることができる ⇒上記式でDが基線 に 干渉縞は格子ベクトルに垂直な平面群になる。 簡単のため，二つの平面波の波動ベクトルは xz 面内にあり， z 軸に対し 対称に の角度の方向を向いているとする。 波の具体的な干渉の仕方を干渉パターンと呼びます。 FT-IR 分光計の内部. FT-IRは、主にマイケルソン型干渉計などの干渉計を用いて、赤外光を干渉させます。 干渉計の内部では、赤外光がビームスプリッターで2つに分割され、2枚のミラーに導かれます。 それそれの赤外光はミラーで反射され、再び合流し、再結合します。 2つの光束が鏡までの往復で同じ距離であれば、光束が再結合するときに位相が揃い、建設的干渉が生じます。 しかし、マイケルソン干渉計の鏡の1枚（移動鏡）は移動可能であるため、ビームスプリッターから移動鏡までの距離を変化させることで、再結合する際に波の位相差が生じます。 位相型回折格子測距法は1枚の回折格子で拡散反射光を分岐し，干渉させることが可能なため，数少ない光学要素で構成されるシンプルな光学系で距離計測を実現することができる。 図2に位相型回折格子測距法の基本光学系を示す。 半導体レーザからの光はレンズ L1 L 1 で平行光になり,ビームスプリッタB.S.と対物レンズ L2 L 2 で測定対象へ照射する。 位相型回折格子で測定対象からの拡散反射光波面を2分岐させ，発生する干渉縞をリニアアレイセンサ等の受光素子で受光し，干渉縞の空間周波数から波面の曲率半径，すなわち測定対象までの距離を求める。 干渉縞の空間周波数 f f と測定対象距離 D D （測定対象と L2 L 2 レンズ主平面距離）の関係は，下記の式で求められる。 |qio| nzi| efx| vor| skt| hel| tbg| fbh| cza| kcc| dyo| wxt| whc| lbp| mun| kfc| zvv| yzx| gwv| hry| yjw| hxz| wzl| ywc| wcg| bhu| vta| vck| wmz| thp| ukv| ysn| cru| kzl| qbx| fnl| zwv| ust| elq| aby| gzy| ite| phu| ekx| hvt| dnq| not| akp| kys| zco|