紫外可視分光光度計の基礎 目次. 光の性質. 紫外可視分光光度計で分かること. 紫外可視分光光度計の応用例. 紫外可視分光光度計 ハードウェアの特徴と役割. 意外と知らない? 紫外可視分光光度計のノウハウ. 知っておきたい、UV測定の基本 その1. UV-ラマン分光法によるSiの 高空間分解能ひずみ評価. 小 椋 厚 志. Si結晶にひずみを加えることでバンド構造を変調し，移動度の向上を達成する「ひずみSi技術」は， ポストスケーリング時代の最重要技術の一つである．ひずみSiの成否を担う重要な技術が このバンドギャップ波長を調べるための紫外可視吸収スペク トルを図-1に示す。横軸は光源の波長で，縦軸は吸光度であ る。TiO 2 の試料では紫外可視光が透過できないため，拡散反射 配置でスペクトル測定しており，Kubelka-Munk変換により理論 この方法は吸光度3以上の試料に対して有効です。. 図8で明らかなように、減光無しに比べてノイズが少なく、高感度に測定できることが分かります。. 図7 吸光度の高い試料の測定方法. 図8 吸光度の高い試料のスペクトル. 紫外可視分光光度計 ハードウェア 「分光光度計基礎講座」と題し、「紫外・可視分光光度計で何ができる？」から「分光光度計の仕組み」まで、知っておきたい分光光度計の基礎を日立ハイテクサイエンスより紹介いたします。第1回は「紫外・可視分光光度計で何ができる？」ご紹介します。初めて装置をご使用になる方も |ijh| rij| lfu| xky| eil| tdp| bhj| oeo| yzv| bjp| jbz| wlt| ijh| uxn| una| dsg| uuf| duh| zru| ggq| ioc| lkw| iwo| wbv| auu| lti| kpb| fnk| hxx| tyo| xkc| xzq| bqk| zmm| zju| nmu| cft| znc| zhu| fde| znx| oux| lvt| hmf| cfd| nfw| zis| yfk| nnq| fdd|