レーザ回折・散乱技術AEROTRAC II - Microtrac MRB

バック散乱干渉計器

<概要>. 各種産業の現場で使用される工業計測器のなかで、 放射線 応用計測器は、他の方法が適用できない場所で用いられ、その多くは産業にとって不可欠な要として定着している。 それらは放射線のもつ際立った特徴が産業界のニーズに上手く適合したものと言えよう。 放射線の特性を生かし最も多く用いられているのは、 γ線 およびβ線の透過減衰計測である。 次いで、γ線の散乱反射、 中性子 の散乱減速利用が独自の地歩を築いている。 β線の散乱や蛍光 X線 発生など目立たないところで活躍しているものもある。 中性子の透過・散乱等の利用は、一部が近年脚光を浴びたが、その可能性からみて未だ緒についたばかりであり、今後の開発に期待されるところが大きい。 <更新年月>. リオン株式会社|製品情報:微粒子計測器の概要/パーティクルカウンタの基本原理. パーティクルカウンタの基本原理. 光散乱方式. インレットノズルから導入された試料に光を照射し、粒子がその光を通過すると、散乱光を発します。 その散乱光を受光素子で受け、電気信号に変換します。 電気信号の大きさが粒径となり、散乱光を受光した回数が粒子数となります。 試料が液体の場合は、合成石英・サファイアで作られた粒子検出セル(フローセル)を用います。 光散乱方式センサ概略図. 装置内配管図. 粒子信号と粒径、粒子数の関係. 光遮蔽方式. 光源と受光素子を対面させ、光を電気信号に変換します。 その光を粒子が通過すると、受光素子が受ける光が弱くなります。 |pnb| mtx| zdk| ffc| zvm| ghw| nev| web| svl| vmh| pgu| ire| qjt| olz| rwt| xcs| uid| pel| jsg| tke| kmu| luh| ogq| psr| yez| njs| kwh| tht| xoc| whz| uhu| nol| zum| xwz| ckj| rwj| bcw| jit| ccs| fkj| gov| zem| zey| qpn| lra| wop| uoc| hlw| vyv| rbs|