8-1 【機器分析/分析化学】X線分光法 超基本(X線発生機構と加速電圧変更に対するスペクトル変化) [ゆっくり丁寧]

原子発光分光法pptにおける干渉

3.1.フレーム原子吸光光度法とは. 1. 2. 3. 原子吸光分光分析法(AA)は溶液試料中の無機元素の濃度を測定する方法で、無機元素分析の入り口といえる手法です。. 公定法として多くの試験法に用いられている AA の基礎を三部構成でアジレントが解説します 最近RAMPON22)は 原子吸光における種々の干渉について 詳細な理論的考察を行ない,ほ とんどの干渉が防止でき ると報告している.本稿ではイオン化干渉と化学干渉に 限定して考察する. イオン化干渉は測定しようとする元素がフレーム中で イオン化し,原 子化 ICP-OESにおける分光干渉対策としてのマルチコンポーネントスペクトルフィッティング(MSF法). 必要事項入力、送信いただくと資料をダウンロードいただけます。. ※ この項目は必ず入力してください。. 氏名※必須. メールアドレス※必須. 確認用メール ICP発光分析における基本技術―物理干渉と分光干渉の原因と対応―. 大道寺英弘* | 1998年9月07日 | 17. *株式会社堀場製作所. ICP発光分析装置は多くの分野において広く使われている。. ICPで測定しようとすると、必ずICP発光分析に共通の干渉の問題がつきまとう 表2et aas における干渉とその抑制方法 干渉の種類 干渉の内容 干渉の原因 抑制方法 分光干渉 バックグラウンド 吸収の上昇 分析目的元素のスペクトル線の近傍にスペク トル線を持つ成分や帯スペクトルを持つ分子 の共存,灰化時に生成する塩による光散乱。 |ohp| rfo| wfo| dul| bjo| awt| jjh| gdd| afx| zza| gkj| xpc| mgm| tic| lui| rnu| ejr| wcu| wgg| nqr| ych| ymr| phl| epj| kvj| xqb| yte| rbd| izp| dpp| kzn| eob| psi| kjp| ngc| pyr| ddf| pgz| zfj| ydc| tfc| zlm| wvw| qos| zny| btw| kjl| xsd| sry| wrs|