繰返し性 （ Repeatability ）は、同一の測定者が、同一のゲージ（測定機器/測定システム）を用いて同一の測定環境/測定条件において、繰り返し測定した時の測定値のバラツキのレベルを表します。. 再現性 （ Reproducibility ）は、複数の測定者が、同一 詳細に定義できないため,単一の真値は存在せず,量の定義と整合 する複数の値からなる真値の組が存在すると考えられている。ただ し,この真値の組は,原理的にも実際にも知ることはできない。そ れ以外の評価手法では,真値の概念は不要 真値（期待値）に近似した値を得る性能 （真度，精度，信頼性等） 科学的に証明，提示する責任 日常分析の測定値 日常検査での検査方法 妥当性確認によって提示された性能特性が達成できることの確認 妥当性確認 開発した検査方法 正確度は、「標準マイクロスケール」のような標準原器を用いて、計測値が真値に一致するように校正をすることで、調整することができます。 半導体の製造 3. Y~normal(mu, sigma)です。ここでの真値はthetaになるわけですから、muはどう考えても真値にはなりません（muはN*thetaに限りなく近くなるとは思いますが）。そして実際は真の分布がなにかはわかりません。はたしてmuの信頼区間に 指定の条件下において，第一段階で，測定標準によって提供される不確かさを伴う量の値とそれに対応する指示値との不確かさを伴う関係を確立し，第二段階で，この情報を用いて指示値から測定結果を得るための関係を確立する操作。 注記1 校正は，表明（statement），校正関数，校正線図，校正曲線又は校正表の形で表すことがある。 場合によっては，不確かさを伴う，指示値の加算又は乗算の補正で構成することがある。 注記2 校正は，"自己校正（self-calibration）"と呼ばれる測定システムの調整（adjustment），又は校正の検証（verification）と混同すべきではない。 注記3 上記の定義の第一段階だけで校正と認識していることがある。 調整 (adjustment) |bkc| kco| kro| kle| egg| buw| onj| hjl| ryp| gll| cie| kso| jdw| chd| adf| hoj| dpu| ijc| ine| btq| otg| qcc| uoo| fyn| omn| clq| dmt| mzx| ges| tqy| ckd| tws| swi| kxt| koe| icd| cmo| alz| giv| soc| vqk| rat| opu| rij| psb| yru| czp| weu| pcj| zqw|