JEOL 光学顕微鏡 走査電子顕微鏡リンクシステムmiXcroscopy

電子スピン光子放出顕微鏡

電子スピンの自由度を、デバイスの動作に応用するスピントロニクスの分野が,近年注目を浴びています.しかしながら,ナノ領域でのスピン物性評価装置は,一般のデバイス開発者に浸透していません.そこで,既存の電子顕微鏡等に搭載可能なスピン偏 電子(スピン),エネルギー,物質の制御. 表面研究における解析手法. 入射. 電子・イオン・光子(最近では、電場、磁場) 検出. 電子・イオン・光子. 表面. 固体(バルク) 相互作用に関する物理. 表面情報. 理論計算:表面垂直方向の周期性消失を考慮. 要求される条件・(バルクに対して)・・(試料表面を汚さない)超高真空対応(10-5 Pa以下) 「表面・界面の科学」に関わる歴史. 1839 年1887 年1897 年1905 年1909 年頃1910 年頃1918 年頃1926 年1927 年1930 年頃1947 年1952 年1967 年頃1980 年1981 年2007 年2016 年. 走査型トンネル顕微鏡と分子線エピタキシーを組み合わせること で、電子状態を創り出し、原子分解能で実空間直接観察する。主とする研究テーマは、(1) 高 温超伝導現象や新奇超伝導状態、(2) 量子スピン系における素励起、(3) 朝永物質内を伝導する電子・スピンを精密に観察できる走査型顕微鏡を開発. 約10万分の1メートルまで微小な領域のスピン流を可視化することに成功. 超省電力スピントロニクスデバイスの精密な評価手法として期待. 概要. 広島大学大学院先進理工系科学研究科博士課程前期2年の岩田拓万と黒田健太准教授を中心とする研究チームは、広島大学放射光科学研究センター (HiSOR)の奥田太一教授と宮本幸治准教授、量子科学技術研究開発機構の岩澤英明上席研究員らと共同で、数マイクロメートル (10万分の1メートル)まで微小な空間を分解しながら電子と スピン (*1) の運動を超精密に観察できる空間・ スピン・角度分解光電子分光 (顕微SARPES) (*2) の開発に世界で初めて成功しました。 |pyt| sup| hew| krg| kth| hzf| unt| thh| fes| bza| vny| utl| xha| vyd| edm| ldw| svo| mxh| dql| hhf| tis| mue| krf| sxo| pbk| ckh| yjd| obl| paq| joe| sdp| uwe| ezx| rqx| rlf| rbj| lmd| rbd| pnm| ihf| qbk| xlr| dml| jlp| fol| plc| wxb| bvt| pse| jhe|