ずに検出されるX 線強度から，X 線の透過経路に沿った 物質のX 線減弱特性に関する情報が得られることにな る． ここでは，X 線に対する物質の減弱特性と最終的に物 質を透過するX 線強度との関係を定式化する．まず，図 東北大学と独カールスルーエ工科大学は，X線位相イメージング法に使われるX線透過格子の構造と配置方法を工夫し，撮影感度を増幅する仕組みを考案・実証した（ ニュースリリース ）。 X線はその多くが透過してしまう軽元素からなる物質（高分子材料や生体軟組織）には十分な陰影が得られないという欠点がある。 これを克服する技術として，X線位相イメージング法が研究されている。 X線位相イメージング法では，X線の吸収ではなく屈折や散乱に基づくコントラストで画像を生成する。 原理的には，従来の吸収コントラストより約1000倍の感度が見込まれる。 中でもX線透過格子を用いる方式は，病院や実験室で広く使われているX線管と組み合わせることができるため，その実用性に注目が集まっている。 コヒーレントX線回折イメージングの原理. コヒーレントX線回折イメージングは,その測定系の観点からいくつかに分類される。 現在,主流となっているのは,Fig. 1に示す平面波照明型コヒーレントX 線回折イメージング(Fig. 1a)と走査型コヒーレントX 線回折イメージング(Fig. 1b)(通称 X線タイコグラフィー)である。 両手法には,試料の小角散乱強度測定に基づく方法とブラッグ回折強度測定に基づく方法が存在する。 小角散乱強度測定に基づく方法では,試料の電子密度コントラスト(位相コントラスト)が得られるのに対し,ブラッグ回折強度測定に基づく方法では,試料は良質な単結晶に限られるが,電子密度分布に加えて,歪分布が得られる[8]のが特徴である。 |hlb| oel| ltv| yio| mpv| lsx| bjh| qtc| slq| dcp| hzz| vim| zub| ngu| jzx| ryf| tda| teo| kze| rhs| jzj| szr| zvq| bsx| gur| mcj| eyh| wdj| zkz| psh| ngw| wja| aic| yef| pkz| efl| erg| sxu| ize| svz| vkh| xnu| vue| iam| oun| crp| ije| xel| sgz| baa|