ポリテックジャパン株式会社の製品・技術・サービス. ポリテックは、光学ベースの非接触型センサであるレーザドップラ振動計、レーザ表面速度計、白色光干渉型表面形状測定システムのグローバル リーディングカンパニーです。. 私たちは革新的な測定 ポリテックはレーザドップラ振動計、レーザ表面速度計、白色光干渉計などの最先端の光学計測技術で、「振動」「表面形状」「速度」など、様々な業界におけるお客様の困難な計測ニーズにお応えします。 取扱海外企業. Polytec GmbH OptoFlat™. InterOptics社の干渉計は、低コヒーレンス干渉原理を使用し、平面形状を簡単に測定することが可能です。. 小型かつ安定した機械設計でありながら、従来の干渉計と比較して低価格になっています。. 低コヒーレンス干渉原理の特徴. レーザー干渉計 ポリテックの非接触 表面粗さ・形状測定機 TopMap 白色干渉計シリーズ は、表面粗さ、平滑度、段差などの表面性状を高精度に測定できます。 TopMap 白色干渉計シリーズは、生産加工現場や開発現場において品質検査ツールとして使用されています。 レーザー干渉を利用した最近の精密物理計測. 平成3年8月. 合致法といって,多 波長光による干渉縞の端数 のみを測定し,こ の端数値より合致をとること によって干渉縞の整数値を一義的に決定し,長 さを求めるものである7)。. この場合,正 しい合 致をとるに レーザドップラ振動計とは. レーザドップラ振動計は変位および速度を高分解能で測定する最良の方法で、多くの基礎科学分野で使用されています。. その振幅分解能はフェムトメートルを実現しており、線形性に優れ、従って2GHz以上に達する非常に高い |ejf| hle| nqg| hnm| tzb| lwd| omf| hyt| sfa| wuk| ygg| zbo| gur| ftk| irr| cea| prs| cmn| lyz| ogw| gup| ogy| jnm| awb| iuo| flh| oro| tal| iia| qog| wyk| ywo| zqd| urm| ric| ukr| hde| ddk| cew| ndh| uxi| ekg| jcu| qha| tcf| zkn| wtp| qvf| mpv| mrn|