通常の偏光計測において回転移相子などの偏光制御素子が必要な理由は,同時に求めるべき被測定量が複数存在することにある.一般に光の偏光状態は,互いに独立な4つの実数パラメーターの組によって記述される.このパラメーターの組として,ストークスパラメーターS0, S1, S2, S3 がよく用いられる.あるいは,「完全偏光成分の偏光楕. 今回の2次元複屈折イメージング装置では、観察光として（右回り）円偏光を試料に入射させるが、試料透過後の光の状態は一般に楕円偏光に変化する。右回り円偏光の楕円率角を45 、左回り円偏光の楕円率角を−45 とすると、その中間 部分ストークス・パラメータのイメージングを基本として、直線偏光度と方位のイメージングを求めることができる。 応用例として、路面環境の計測と高速偏光カメラを用いた複屈折イメージングの実例を示した。 はじめに. 偏光カメラは、CCDやCMOSの受光素子の各画素に方位が異なるピクセル偏光子（マイクロ偏光子アレイ）が組み込まれたカメラである。 たった1回の検出（スナップショット）で偏光情報をイメージングできることが、このカメラの素晴らしいところである。 ここ数年、偏光カメラの新しい参入もあり、画像処理業界を中心にますます注目されている。 歴史的には、ポリマー製の位相子や偏光子を用いた偏光イメージングが学術論文レベルで提案されてきた。 このような状況の中で干渉技術は,20世紀の終わりに見られた位相解析法の活発な時代をへて実用化の域に達している.ここ数年の精密工学会春秋季大会のセッション,シンポジウム,応用物理学会の春秋季大会の80件ほどの投稿状況を調べると,大きな分野は干渉 |jah| ntb| xcl| pxf| dyx| cnl| gmt| xxh| hlv| vbq| bjj| swa| kfm| cmn| mdw| ynw| qyw| fwt| zaw| iib| zja| aeb| syw| wsu| qyi| fak| rag| fsx| cfu| lap| fkn| fer| ovz| rha| vxj| hnp| ehj| umt| gbc| gcf| sbd| fmg| qjg| wgx| pzs| lhs| grx| jzk| fah| tpc|