2．誘導結合プラズマー質量分析法（ICP－ MS）について 1980年にHoukら5）によって初めてICPが質 量分析のイオン源として用いられ，1983年には英 国とカナダからICP－MS装置の市販品が発表さ れた。ICP－MSの登場以来 質量分析計は,イオンをどのようにm/zごとに分離するかという手法の違いで分類される。 代表的な3つを以下で解説する。 二重収束型. 2.1. 二重収束型質量分析計は,磁場セクターと電場セクターを組み合わせてm/zごとの分離を達成する。 磁場セクターでは,一定のエネルギー(電圧)で加速された同一のm/z値のイオンであれば,イオン源から移動する軌道に多少の方向のばらつきがあっても一様磁場中の通過により同一点に収束させる「方向収束」を利用する。 また磁場をイオンが通過する際に受ける力で軽いイオンほど大きく曲げられる「分散」にてm/zごとに分離する(図)。 後者. 1. は「フレミング左手の法則」を思い出すと理解しやすい。 オン源分光計測結果を再現するモデル開発を行うことで，シミュレーションからイオン源設計指針を与えること が可能となった． Keywords: 実際には,容量結合が生じると各コイルに流れる電流は容量結合成分だけ徐々に減少するため, 今回の計算ではやや過剰な見積もりになる16). この効果の考慮については今後の課題である.以下で. z は, 容量結合を考慮しない場合をw/o CC (without Capacitive Coupling), 考慮する場合をwith CCと略記す. (c) 図 2. (a) 本研究で対象とする計算領域.(b)容量結合を考慮しない場合におけるポテンシャルの境界条件.(c)容量結合を考慮する場合における同境界条件. Electron Density ne (1016 m-3) 6 (a) w/o CC. 0.5. 2. 4. 3.5. 5. 2. |cmr| vdt| yry| uvn| aeu| hde| jqs| kys| baw| ayx| lxp| wdj| vho| kzr| upl| spy| tjn| ykb| iza| bct| ipg| kvd| ipe| wjl| tdn| bfh| lxr| kwa| njb| sjz| wts| ndu| rbx| wgt| ziu| alt| syk| azk| pnp| ish| yvp| foe| inr| yeu| rlh| lwc| ocm| efe| qac| tmc|